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橫向力/側(cè)向力顯微鏡(LFM)?側(cè)向力顯微鏡的應(yīng)用小編提示:橫向力/側(cè)向力顯微鏡、磁力顯微鏡均屬于掃描探針顯微鏡。 1. 原理 探針掃描時(shí)懸臂的偏折量可以回饋成高度變化的影像，但是掃描的同時(shí)會(huì)有摩擦力的產(chǎn)生，而且摩擦力會(huì)造成探針懸臂的左右扭曲(圖7-1)，所以利用偵測(cè)懸臂的扭曲量我們可以得知試片表面摩擦力的分布 ，此為接觸式原子力顯微術(shù)的應(yīng)用。  圖7-1側(cè)向力顯微鏡原理[1]
2.應(yīng)用
量測(cè)表面力學(xué)特性，如摩擦力，材料表面彈性系數(shù)等。如圖7-2所示。
 圖7-2 材料表面摩擦力之測(cè)量[1]
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