紋痕分析對(duì)比軟件

SKU: UV－W

產(chǎn)品介紹

紋痕分析對(duì)比軟件UV－W是一套圖像處理及測(cè)量的應(yīng)用軟件包，主要通過(guò)對(duì)顯微圖像的處理及測(cè)量來(lái)鑒別紋痕。廣泛用于公、檢、法等部門(mén)。

主要功能：

1.隨時(shí)疊加比例尺、隨時(shí)測(cè)量目標(biāo)尺寸；

2.痕跡圖象的多種參數(shù)調(diào)節(jié)；

3.痕跡整體對(duì)接、工痕、彈痕、指紋的鑒定；

4.真假印章的識(shí)別、筆跡特征標(biāo)劃；

操作指南：

1，比例尺寸標(biāo)定：通過(guò)顯微鏡上放置的標(biāo)準(zhǔn)尺來(lái)標(biāo)定顯微鏡上各個(gè)物鏡所觀察的實(shí)際尺寸在計(jì)算機(jī)顯示屏上顯示相應(yīng)比例尺寸。

2，圖像處理：通過(guò)多種優(yōu)化手段來(lái)提高拍攝圖像的清晰度。

3，區(qū)域選取：可以選取所需區(qū)域或全部區(qū)域以便分析。

4，目標(biāo)分析：對(duì)以選取顯微圖像進(jìn)行長(zhǎng)度、寬度等幾何特征測(cè)量及通過(guò)圖像疊加來(lái)鑒別。

5，圖片管理：編輯、保存、輸出、打印。

實(shí)例

指紋圖像疊加對(duì)比：

圖像測(cè)量對(duì)比：


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