SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯

熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃

測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）

          ±2℃（在200～300℃時(shí)）

光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X

注意事項(xiàng)：
儀器成套性與可選購件可參考產(chǎn)品原頁面，本頁只提供儀器核心技術(shù)參數(shù)。
產(chǎn)品價(jià)格均含有商品運(yùn)費(fèi)（大陸地區(qū)除外）及發(fā)票的價(jià)格但是不包含工程師上門培訓(xùn)及調(diào)試的費(fèi)用。
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