SGW X-4B顯微熔點儀

SKU: SGWX-4B
測定物質(zhì)的熔點。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。

熔點測量范圍：室溫至320℃
最小讀數(shù)：0.1℃
測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時） ±2℃（在200～300℃時）
配雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)

注意事項：
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